Teradyne yüksek hızlı bellek test sistemini tanıtıyor

Temel Çıkarımlar

• Magnum E2, Terabyte’ın en yeni yüksek hızlı bellek test cihazıdır; LPDDR6, DDR6, GDDR7, NAND-flash ve hem NRZ hem de PAM3 sinyallemeyi destekler.
• Near-DUT Test (NDT) mimarisi, dijital enstrümanları cihazın 5 mm içinde konumlandırarak gigahertz frekanslarda AC marjını korur.
• Platform, 2.048 I/O pini ve 8 Gb/s per lane kadar yüksek veri hızını işleyerek AI-odaklı veri merkezi belleği için gerekli paralelliği sağlar.
• Tek bir şasi bellek ve mantık testlerini çalıştırabilir, özel mantık test cihazlarına göre test-ekleme döngülerini %30-40 azaltır.
• Gelecek DRAM/NAND standartları (ör. DDR7, PAM4-tabanlı LPDDR) firmware güncellemeleriyle uyumlu hâle getirilebilir—donanım yeniden tasarımı gerekmez.

Giriş: Bellek Test İhtiyaçları Neden Değişiyor

AI hızlandırıcıları ve yüksek performanslı bilgi işlem (HPC) sistemleri, DRAM ve flash cihazlarını benzeri görülmemiş veri hızlarına itiyor. LPDDR6 ve DDR6 artık 5.6 Gb/s per pin hızında çalışırken, GDDR7 24 Gb/s per lane seviyesine çıkıyor. Aynı zamanda, ortaya çıkan PAM3 ve PAM4 sinyalleme güç tüketimini azaltırken dalga formu karmaşıklığını artırıyor. NRZ-only ön uçlar ve sınırlı pin sayısı üzerine kurulu geleneksel test cihazları, cihaz-alt-test (DUT) bu hızlarda çalıştığında sinyal bütünlüğünü korumakta zorlanıyor.

Teradyne’in yanıtı Magnum E2, kanıtlanmış Near-DUT Test (NDT) mimarisini Magnum EPIC platformunda kullanılan modüler donanım/yazılım yığınıyla birleştiren yeni nesil bir test cihazıdır.

Mimari Genel Bakış

Near-DUT Test (NDT) Çekirdeği

• Enstrüman yakınlığı: Dijital sürücü/alıcı modüller DUT’dan < 5 mm uzakta bulunur, iletim hattı kaybını ve jitter’ı azaltır.
• AC-marj izleme: Gerçek zamanlı göz-diyagramı analizi, hedef hızda > %30 göz-açıklığı sağlar.

Ortak Platform

• Birleştirilmiş donanım: Aynı şasi ve backplane, hem üretim-düzeyi hem de mühendislik-düzeyi konfigürasyonları hizmet eder.
• Ölçeklenebilir I/O: Slot başına 2.048 pine kadar, çok-ranklı DIMM’lerin paralel test edilmesi için 64-pin gruplar halinde yapılandırılabilir.

Yazılım Katmanı

• Programlanabilir desen motoru: NRZ, PAM3 ve PAM4 destekler; 1 M-nokta kadar keyfi dalga formu oluşturabilir.
• Entegre mantık doğrulama: Yerleşik BIST/scan-chain desteği, aynı anda mantık-yolu testini mümkün kılar.

Özellik Detayı

Tablo, Magnum E2’nin özelliklerinin 2023-24 üretiminde hâlâ kullanılan çoğu eski bellek test cihazının yeteneklerini nasıl aştığını göstermektedir.

Yüksek Hacimli Üretim İçin Faydalar

1. Tam Hızda Sinyal Bütünlüğü – Dijital sürücüleri DUT’a yan yana konumlandırarak sistem, 24-Gb/s GDDR7 göz-açıklığı gereksinimleri için gereken AC marjını korur, yeniden test oranını yaklaşık %15 azaltır.
2. Protokol Esnekliği – Tek bir programlanabilir desen üreteci, LPDDR6’nın 16-bit genişliğindeki PAM3 patlamaları ile DDR6’nın 32-bit NRZ patlamaları arasında donanım değişikliği yapmadan geçiş yapabilir, yeni bellek aileleri için nitelik döngülerini kısaltır.
3. Birleştirilmiş Test Akışı – Entegre mantık testi, ayrı bir mantık test cihazına gerek duymadan araç maliyetlerini düşürür ve pilot çalışmalarda wafer başına ortalama test süresini 45 dk’dan 28 dk’ya indirir.
4. Gelecek-Güvenliği – NDT şasisi sadece firmware güncellemeleriyle tasarlanmıştır; bu sayede yaklaşan DDR7 veya PAM4-tabanlı LPDDR8 yeni bir sermaye yatırımı gerektirmeden desteklenebilir.

Gerçek Dünya Uygulama Senaryoları

• AI Veri-Merkezi DIMM Nitelendirmesi – Magnum E2, dört paralel kanal üzerinden 256-bit genişliğindeki DDR6 modüllerini aynı anda doğrulayabilir; test cihazı başına ≈ 2 TB/s veri akışı sağlar.
• Kenar-Cihaz NAND Flash Doğrulaması – Sistem’in PAM3 motoru, düşük-güç NAND flash zamanlamasını destekleyerek 1-Tb NAND cihazlarını 1.2 Gb/s per pin hızında doğrular ve güç bütçesi uyumluluğunu korur.

Her iki kullanım durumu da aynı donanım platformundan faydalanır, bakım ve test mühendisi eğitimi sürecini basitleştirir.

Sonuç

Teradyne’in Magnum E2’si, yüksek pin sayısı, çok-protokol desteği ve Near-DUT sinyal bütünlüğünü tek, yükseltilebilir şaside birleştirerek bellek test yeteneklerinde belirgin bir sıçrama sunar. AI-odaklı DRAM, yüksek bant genişlikli GDDR ve bir sonraki nesil NAND flash’ı nitelendirmeye çalışan üreticiler, Magnum E2 sayesinde teknoloji eğrisinin önünde kalmak için gereken performans payı ve esnekliği elde ederken test süresi ve sermaye giderlerini de azaltır.

Detaylı teknik özellikler ve konfigürasyon seçenekleri için Teradyne.com adresini ziyaret edin.